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　　在日前召開的中國顆粒學會第十屆學術(shù)年會上，我司研發(fā)總監(jiān)、研發(fā)中心主任范繼來獲得中國顆粒學會青年顆粒學獎，是本屆獲獎?wù)咧衱ei一的企業(yè)界人士。

　　中國顆粒學會青年顆粒學獎，是郭慕孫院士用所獲得的何梁何利基金獎的全部獎金和個人部分積蓄設(shè)立“青年顆粒學基金”，中國顆粒學會利用此基金于1997年設(shè)立了“中國顆粒學會青年顆粒學獎”，旨在鼓勵顆粒學領(lǐng)域做出突出貢獻的青年科技工作者。經(jīng)國家科學獎勵辦公室正式批準，“中國顆粒學會青年顆粒學獎” 是國家承認的社會力量設(shè)立的科學技術(shù)獎。

　　范繼來從事顆粒測試技術(shù)研究16年，他和他所帶領(lǐng)的團隊以*的執(zhí)著和科學的方法，在激光粒度測試理論、反演計算、光學系統(tǒng)、顆粒折射率測量、圖像顆粒分析技術(shù)領(lǐng)域取得了一項又一項成果，取得11項zhuan利，其中激光粒度測試雙鏡頭光學系統(tǒng)、正反傅里葉結(jié)合光學系統(tǒng)、顆粒折射率測量技術(shù)為世界*技術(shù)，*外顆粒測試技術(shù)空白，使中國顆粒測試技術(shù)擁有了系統(tǒng)性的自主知識產(chǎn)權(quán)，為中國顆粒測試技術(shù)趕超*水平做出了突出貢獻。

　　在應(yīng)用技術(shù)研究方面，以范繼來為首的研發(fā)團隊做了大量開創(chuàng)性的工作，推出了激光/圖像二合一粒度粒形分析系統(tǒng)、智能化粒度測試系統(tǒng)、納米粒度測試技術(shù)、動態(tài)圖像顆粒分析系統(tǒng)以及光通量補償技術(shù)等幾十項技術(shù)，使我司顆粒分析儀器的技術(shù)性能始終處于國內(nèi)外地位，同時結(jié)束了中國顆粒測試儀器只能依靠進口的歷史。

　　2006年，我司總經(jīng)理董青云曾獲得當年中國顆粒學會青年顆粒學獎，十二年后我司研發(fā)總監(jiān)范繼來又獲得中國顆粒學會青年顆粒學獎，這不僅是對獲獎?wù)邆€人取得成績的肯定， 更是顆粒測試界對我司長期以來致力于顆粒測試技術(shù)研發(fā)并取得突出成績的肯定。我司將不負眾望，不辱使命，繼續(xù)致力于顆粒測試技術(shù)研究，致力于高水平顆粒測試儀器制造，為我司實現(xiàn)粒度儀器品牌的目標而繼續(xù)努力。