XGT-1000WR熒光光譜儀樣品檢測倉大、無需更換濾光片（濾波片）、無需樣品形狀的預(yù)處理；厚度自動修正；CL元素自動修正：同軸CCD技術(shù)；X射線零外溢；隨機(jī)攜帶12塊標(biāo)準(zhǔn)樣；新增金屬鍍層測厚功能。

產(chǎn)品介紹

HORIBA X射線熒光光譜儀

XGT-1000WR熒光光譜儀主要技術(shù)指標(biāo)：

              1、 分析元素：Si～U（Cd/Pb高精度型）；Na～U（任選：φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型）

              2、 檢測精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

              3、 檢測倉內(nèi)部尺寸：不超過460×360 mm（高150 mm）

              4、X射線照射徑：φ1.2 mm（可選：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切換）

              5、 檢測器：高純硅檢測器 XEROPHY

              6、 設(shè)備重量：約 265 kg（不含桌子、計算機(jī)）

              7、 外形尺寸：分析部分：610（W）×750（D）×500（H）mm 

       8、 信號處理部：220（W）×500（D）×480（H）mm 

       9、可同時測量4層金屬鍍層的厚度。

                    HORIBA在能量色散XRF方面的XGT（X射線導(dǎo)向管聚焦）技術(shù)實現(xiàn)了微小面積、高X射線能量聚焦測量，確保了微區(qū)測量、快速測量、高精度測量。HORIBA XGT1000WR便是一款經(jīng)典機(jī)型。