簡介

WITec alpha 300S掃描近場光學顯微鏡是一種純近場光學顯微鏡，在很多樣品上都可獲得一致的超高分辨率，并且擁有透射與反射式兩種模式。

該近場光學顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發光源。 alpha300S 系統采用軟件可控的快速自動進針及調節等自動測試流程，操作非常簡便、直觀。

由于近場光學信號極其微弱，alpha300 S 近場光學顯微鏡配備高靈敏單光子計數的光電倍增管或雪崩二極管，并同時提供檢測器快速超載保護。更重要的是，UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統兼容，實現近場光譜與成像測量。

產品特性

突破衍射極限的空間光學分辨率（橫向約 60 nm)

的 SNOM 探針技術

在空氣與液體中均可使用

包含多種原子力與光學顯微鏡模式

非破壞性、無需標記的超高分辨成像技術，基本不需要樣品制備

可升級到關聯的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像

集成三種技術到一臺儀器上：共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM