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傅立葉變換紅外光譜儀INVENIO®

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INVENIO適用于幾乎所有應用領域及任何行業(yè),從常規(guī)質量控制到的研發(fā)工作

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INVENIO 適用于幾乎所有應用領域及任何行業(yè),從常規(guī)質量控制到的研發(fā)工作。無論您專注于高效、精準或者必須符合規(guī)定,INVENIO總能支持您!


創(chuàng)新特性

  • 全新設計的光束路徑帶來優(yōu)異的信噪比

  • 嵌入式觸摸屏PC用于且高效的FT-IR分析(可選)

  • 第二個樣品室可額外支持一種實驗設置(TransitTM)

  • 創(chuàng)新的      MultiTect™ 支持多達5個室溫檢測器,內部可配備多達7個自動檢測器

  • 新型無磨損精準調節(jié)      INTEGRAL™ 干涉儀含三位分束器自動切換組件,分辨率優(yōu)于 0.085cm-1

  • 現(xiàn)代 SoC 電子元件使用戶能夠分辨最小的光譜特征

  • BRUKER      FM檢測技術可以一次性收集遠、中紅外光譜

  • FIR VIS/UV 以及時間分辨光譜


需求變化,INVENIO 適應

您的應用程序是衡量事物的尺度,INVENIO 支持您的努力。如果您的分析需求增長,INVENIO 會跟上。它是您日常分析任務所需的堅實基礎。


的靈敏度

憑借新穎、高效的光路設計,以及由的SoC電子元件控制的精確的光學系統(tǒng),INVENIO能夠為您提供性能,再細小的光譜細節(jié)亦無處可遁。


強大的軟件
OPUS作為紅外分析領域大的軟件解決方案之一,能夠簡化測量程序,為FTIR初學者和專家提供支持,提供大量的方法創(chuàng)建成套工具,以及樣品評估擴展功能。


時刻驗證

INVENIO具有完整的自動PQ(性能驗證)和OQ(操作驗證)程序,可在受監(jiān)管的制藥實驗室中進行儀器驗證。


體驗質量

從耐用的外殼,到擁有、無損耗且精準的干涉儀,每個元件均采用質的材料制成。INVENIO經久耐用,能夠為您提供長達多年的長久可用性。


不再受限

  • 隨時升級,擴展光譜范圍

  • 實現(xiàn)步進掃描、快速掃描和交叉掃描時間分辨光譜TRS

  • 覆蓋從遠紅外到紫外/可見光的任何細節(jié)

  • 僅需數(shù)秒即可切換附件、檢測器和分束器

  • TGA、顯微鏡或發(fā)射分析等更多外部模塊

  • 拉曼模塊用于增強分析可能性

  • 符合GMP、GLP  21      CFR part 11


更多分析

INVENIO幾乎可與任何類型的樣品相匹配,僅需幾秒鐘便可切換采樣附件,借助第二個樣品室,您還能并行采用兩個實驗設置。


工作更輕松

為了始終確保的測量參數(shù),所有核心組件均進行了電子編碼。此外,可選的集成式觸屏電腦能夠帶來的直觀式用戶體驗,以及的聯(lián)網功能。

所用技術受以下一項或多項保護:US 7034944

要求質量控制需要 INVENIO

                 

常規(guī)和質量控制

FT-IR 分析

INVENIO能夠簡化您的日常分析任務??蛇x的觸屏式電腦、無線聯(lián)網功能、的光譜性能、突破性的SoC電子元件和長壽命組件,而這些只是成就超凡INVENIO的其中一部分。


更好、更智能地工作

INVENIO觸屏式電腦(選件)能夠提供直觀式用戶界面和智能聯(lián)網功能,在實驗室測量,在辦公室解析,將真正成為可能——無需纜線或人工傳輸數(shù)據(jù)。預設的工作流程限度地減輕了操作人員的工作量,同時保持功能不受影響。


可靠、高效、高產

從基本的QC/QA,到要求嚴苛的研究級應用,不論您正在使用標準的ATR裝置、特殊的多角度反射裝置還是成像顯微系統(tǒng)。您都可以信賴INVENIO帶來的直觀明了的分析和測量結果。

始終值得信賴

PermaSureTM 能夠時刻監(jiān)測設備配置,并進行快速自檢,以確保正常運行,同時,PerformanceGuardTM 可通過持續(xù)監(jiān)測所有機械和電子元件來確保儀器的性能。


靈活的 FT-IR
TransitTM 通道(ATR或透射模式),帶有專用MIR DTGS檢測器的獨立第二樣品室,您將能進行兩種實驗設置,節(jié)約大量時間。


指尖上的FT-IR光譜

適用于Windows、ALPHA、INVENIOOPUS Touch

 

INVENIO 的應用

INVENIO非常適用于需要高靈敏度、光譜或時間分辨率、穩(wěn)定性、靈活性和可升級性的情景,從而改善您在工業(yè)或研究應用領域的日常分析體驗。


質量控制

  • 原料驗證

  • 產品缺陷故障排除

  • 識別未知污染物

 

材料表征

  • 揮發(fā)性成分的測定

  • 分解過程表征

  • 光學材料表征


半導體

  • 硅晶圓中氧和碳含量測定

  • 近紅外光譜范圍的光致發(fā)光測量

研發(fā)

  • 時間分辨光譜學

  • 傅立葉變換紅外光譜電化學

  • 低溫實驗

  • 傅立葉變換紅外顯微及化學成像

  • 原位反應監(jiān)測

  • 幅度調制(AM)光譜

制藥與生命科學

  • 評估醫(yī)藥產品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量

  • 區(qū)分活性藥物成分的多晶型

  • 蛋白質構象和濃度

  • 微生物鑒定


聚合物和化學品

  • 識別聚合物復合材料中的無機填料

  • 識別無機礦物質和色素

  • 多層分析

  • 配方研究

  • 反應監(jiān)測和反應控制

  • 聚合物動態(tài)和流變-光學研究

  • 傅立葉變換拉曼在各領域的應用


環(huán)境

  • 污染監(jiān)測(如微塑料)

  • 土壤表征



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