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內型面測量儀 參考價：面議
對于精密孔加工零件，例如航空航天儀器中的燃料噴嘴、醫療器械中的中空零件、分析儀中的精密噴嘴和流體動力軸承，內周表面評估的重要性日益增加。現有的測量儀器可以評估內...
晶圓缺陷檢測系統 參考價：面議
可一次性檢查第三代半導體 SIC 等材料表面，背面和內部的缺陷，可探測最小缺陷為100 納米，主要用于半導體光罩、 LCD 大型光罩的石英玻璃表面、內部、背面的...
白光共聚焦顯微鏡 參考價：面議
日本Lasertec公司推出了Optelics混合共焦顯微鏡,將激光和白光源組合在一體,用于多功能高性能共聚顯微鏡.兩組共焦光學器件與附加器件相結合,包括干涉儀...
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