目錄:廣州滬瑞明儀器有限公司>>光學儀器>>透反射測試儀>> X3PCST透光率測試儀（薄膜固體檢測儀）
名 稱：透光率測試儀
型 號：X3PCST
產 地：上海
X3PCST透光率測試儀儀器用途：
X3PCST透光率測試儀（薄膜固體測試儀）是專為薄膜、玻璃、珠寶、紡織、手機屏、液晶顯示屏等制造行業設計的光譜測試儀。該儀器可以對手機屏、液晶顯示屏進行定波長測試和光譜掃描，是質量監測不可少的檢測工具。
測試固體樣品、規格最小φ1.0mm -500*500mm 厚度：0.01-100mm固體、護目鏡、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、觸屏行業、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構件，光學性能的測定等。
優勢：固體、薄膜、玻璃或者亞克力等特薄、特厚、特大的樣品直接平放測試，方便快捷、測試數據更準確。
X3PCST透光率測試儀儀器產品特點：
1、寬大的樣品臺，樣品直接擺放在測試臺上，任何薄膜夾具都不要， 方便快捷。
2、 設計*的光學系統、高性能全息光柵和接收器確保儀器具有優良的性能指標。
3、采用單機操作，線性回歸方程測量等。
4、應用新的微機處理技術使操作更為方便 。
5、波長，調零全自動，波長最小間隔0.1nm 。
6、配套專業檢測軟件，透射測量覆蓋所有功能，光譜掃描、時間掃描、DNA專用測試、多波長測試、標準曲線測試等，并且使數據儲存達到無限。
X3PCST透光率測試儀儀器主要技術指標
1、波長范圍： 325~1100 nm
2、波長精度： ±0.3nm
3、波長重復性： ≤0.3 nm
4、光譜帶寬： 0.5、1、2、4nm
5、測量范圍： 0-125%T, -0.097-2.700A, 0-1999C
6、透射比準確度： ±0.3%T
7、透射比重復性： ≤0.2%T
8、雜散光： ≤0.02%T(340、420nm)
9、基線直線性：±0.002A
10、樣品規格：最小φ1.0mm-500*500mm， 厚度：0.01-100mm最大可測片： 500mm x500mm
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