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簡介：

簡介：Agilent5529B基本系統：包括激光源、校準器和材料補償板、材料和空氣傳感器、電纜和附件。Agilent5529VVectra系統：包括校準器和材料補償板、HPVectraPC和superV...

簡介：ML10Gold是zui的用于長度計量的激光干涉儀,其zui大的優點是所有測量功能均采用激光干涉原理,性能穩定,使用可靠,功能擴展性強,價格適中

簡介：CNC機床、CMM、導螺桿及DRO直線校驗

簡介：1D激光主要可以測量定位誤差3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動角

簡介：雷尼紹renishaw激光干涉儀XL-80雷尼紹Renishaw的新型XL-80激光干涉儀能夠滿足和超越實際工業規范水平，提供4m/szui大的測量速度和50kHz記錄速率。即使在zui高的數據記...

簡介：供應德國Jenaer公司生產的雙頻激光干涉儀。

簡介：低價格的小型LD干涉儀。用于多種少量的小型鏡片的生產現場上的快速品質檢查。通過簡單操作來進行檢查。

簡介：低價格的小型LD干涉儀。手掌大小、操作簡便。只要放置被檢鏡片，便可簡單迅速地進行測定。

簡介：透過波面測定干涉儀KIF-PU是解析光學部品的透過波面像差的干涉儀系統。特別在光讀取頭用的生產線中，是評價對物透鏡以及準直透鏡的透過波面的系統。