測量范圍
電阻率：10-2～102Ω-cm；
方塊電阻：10-1～103Ω/□；
電阻：10-3～9999Ω
可測半導體材料尺寸
直徑：Φ15～100mm；
長（或高）度： ≤400mm

數字式四探針測試計   四探針測試計  半導體四探針檢測儀   

型號:DL10-1934B

測量范圍 

電阻率：10-2～102Ω-cm；

方塊電阻：10-1～103Ω/□；

電阻：10-3～9999Ω 

可測半導體材料尺寸 

直徑：Φ15～100mm； 

長（或高）度： ≤400mm 

外形尺寸 

主機 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H） 

電源 

功 耗：<1W； 

電源適配器：

輸入:220V±10% 50Hz； 

輸出:DC5V±10% 

北京北信未來電子科技中心

：王華

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