當前位置：儀器網 > 產品中心 > 光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM）>Nano-R2™ PNI Nano-R2™ AFM 原子力顯微鏡
返回產品中心>Nano-R2™是一種多功能的原子力顯微鏡，它可以顯示日常圖象的納米級結構。
技術參數
平板式探針掃描器
X-Y掃描：探針掃描( Tip Scan)
范圍：>80um
線性：<1%
Z-Scan:
范圍：>8um
分辨率：<0.1nm
彩色視頻顯微鏡
放大倍數（19”監測器）：2000
自動放大/聚焦：4
視野：140um＊190um
分辨率：1.5um
自動X-Y臺：
范圍：25.4 x 25.4 mm
步長：<3um
回轉速率：2.5mm/sec
掃描模式：
—接觸模式
—側力模式
—振動模式
—非接觸模式
—原料感模式
—力/距離模式
選配模式:
-電學模式(EFM/Kevin Probe) :非抬起模式, 采用獨立的鎖相放大器探測
-導電模式(SHARK):電流測量范圍: fA-mA
-磁力模式
-摩擦力模式
-納米刻蝕 Dip-Pen Nanolithography
-探針加熱模式( SThM, 探針溫度zui高可達700攝氏度)
-全新納米顆粒粒徑分析軟件
-恒溫恒濕環境控制箱
—脈沖力模式 (Pulse Force Mode): 此為PNI公司*開發出來, 針對軟物質與黏彈性之測量
主要特點
＊ 閉環式掃描器, 定位精準, 誤差小于1nm
＊ 具有兩種掃描器可選用, *種是Light-Level掃描器, 第二種是Crystal Force 掃描器
＊ Crystal Force掃描器為太平洋納米科技公司的, 具有不須校正激光光路, 快速掃描與操作容易等優點. 對于公用實驗室與需要量測大量樣品的客戶, Crystal Force掃描器是*選擇
＊ 可配置環境控制箱, 可控制環境的溫度, 濕度與通氣氛等強大功能
＊ 可選配電學模式, 導電模式, 磁力模式, 摩擦力模式, 納米刻蝕 Dip-Pen Nanolithography, 探針加熱模式(探針溫度zui高可達700攝氏度), 加熱樣品臺, 液體池.
＊ Nano-Rp是美國太平洋納米科技公司專門為分析納米顆粒粒徑分析的原子力顯微鏡, 包括:
全新NanoRule+顆粒粒徑分析軟件, 能夠直接分析納米等級的顆粒并繪制出 二維或三維納米顆粒的圖像
Nanoflat Substrates可以將納米顆粒沉淀并固定在基底.
| 儀器介紹 |
Nano-R2™是一種多功能的原子力顯微鏡，它可以顯示日常圖象的納米級結構。
因為Nano-R2™本身擁有兩種版本的軟件來獲取圖象：X"Pert™(專家級)軟件和
EZMode™(容易級)軟件，不管是對于新手、偶爾使用的人，還是日常用戶，都
可以使他們得到zui大的滿足。更進一步的說，Nano-R2™支持zui普遍使用的原子
力顯微鏡模式，包括接觸，側力，材料感覺，非接觸和緊密接觸模式。Nano-R2™
原子力顯微鏡的三個主要系統是主機，控制器和Nano-R2™實驗臺。
Nano-R2™原子力顯微鏡使靜態納米科技得到進一步加強。Nano-R2™ AFM為納米技術，
納米科學和納米觀察應用確立了一個新的標準，以獲得納米級的更高質量的圖象和
材料結構。對于兩個獨立的研究者或是想要共享一臺原子力顯微鏡的研究團隊來說，
Nano-R2™是一個理想的選擇。
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