XV400是一款光譜范圍為180nm-430nm的光纖光譜儀。檢測器采用濱松線陣背照式CCD， 16-bit A/D采樣和75%的量子效率為光譜儀提供高信噪比和大的動態范圍。可以廣泛應用在理化分析、生物樣品、半導體材料檢測，光學檢測和材料檢測等領域。 XV400在0-40度，光譜波長偏移< 0.1nm，具備良好熱穩定性，能夠應用于定性、定量檢測場景。

◆ 響應強度大：在檢測物質時光譜響應強度大；

◆ 分辨率高：分辨率<1.0nm@600um 光纖；

◆ 良好的熱穩定性：光譜波長偏移< 0.1nm@ 0-40℃, 靈敏度偏差<2%。