HAG-2000是實現基準級光澤度優(yōu)良和相對測量的科學級儀器，主要用于光澤度標準板檢定，光澤標準數據量值傳遞。可**測量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及優(yōu)良鏡面反射率分布曲線。優(yōu)良測量方式避免了相對測量中因標準板和被測板鏡面反射率空間分布差異所導致的測量誤差，測量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測量重復性好，測量精度*。

主要功能及技術指標：

1. 主要功能：光澤度標準板檢定，光澤標準數據量值傳遞；
2. 光澤度測量不確定度U≤0.7，（k=3），滿足JJG 2069光澤度基準要求。
3. 光澤度優(yōu)良和相對測量可選
4. 采用激光精密對準裝置實現角度**定位，角度精度高達0.01°。
5. 探測器接收立體角極小，**接收鏡面反射光，*符合ISO，ASTM，GB，TAPPI， JIS等標準的測量幾何要求。
6. 光源與探測器通過濾色片**匹配CIE C光源和CIE光視效率函數V（λ）。
7. 掃描角度范圍內的鏡面反射率分布曲線，獲得更多材料表面分布特性。
8. 樣品尺寸：3*7cm