70nm超高分辨率校準標樣（for AFM、SEM、Auger和 FIB）
條紋70nm間距，一維排列，精確到±0.25nm。分帶證書和不帶證書兩類。帶有證書的間距需要參考證書上的實際數字。精確全息條紋適用于超高分辨率顯微鏡（25kx-1000kx）的水平方向的精確校準，以及納米尺度上準確校準儀器等等。具有高穩定性和高適用性特性。
硅片大小：4×3×0.5mm，圖案二氧化硅制造（脊寬35nm，高35nm，此參數無校準）。
提供的產品有兩種型號：Model 70-1D和Model 70-1DUTC。其中的Model 70-1D校準標樣, 帶有制造商的認證, 不可溯源；Model 70-1DUTC校準標樣, 認證, 可溯源, 提供證書（PTB,a German counterpart of NIST）。
訂購信息：
貨號 | 產品名稱 | 規格 |
80127-1D | Model 70-1D, Calibration standard, Unmounted | 個 |
80127-1D-X | 同上，可以提供帶銷釘樣品臺的；或者*AFM的（15mm不銹鋼disk）；或者樣品臺 | 個 |
80127-1DC | Model 70-1DUTC，帶有證書，Umounted | 個 |
80127-1DC-X | 同上，可以提供帶銷釘樣品臺的；或者*AFM的（15mm不銹鋼disk）；或者樣品臺 | 個 |
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