光學薄膜吸收測量儀(ModelPTS-2000)，適用于各類光學薄膜和光學元器件表面吸收率的檢測和分析
光學薄膜吸收測量儀(Model PTS-2000)，適用于各類光學薄膜和光學元器件表面吸收率的檢測和分析。根據客戶具體需求，可進行紫外、可見或者近紅外波段的精密測量。
光學材料體內吸收測量儀(Model PTB-2000)，適用于各類光學元器件及材料體內吸收率的檢測和分析。根據客戶具體需求，可進行紫外、可見或者近紅外波段的精密測量。
產品特征 1、高靈敏度；
2、高重復精度；
3、一鍵式操作；
4、樣品更換便捷、無需重復校準；
5、可進行吸收率的橫向均勻性分析；
6、可進行激光輻照或環境變化條件下的吸收率穩定性分析；
7、泵浦光源：可以標配，也可根據用戶需求選配或者由客戶自配。
主要技術參數 | 光學吸收測量儀 | ||
產品類別 | 光學薄膜吸收測量儀 | 光學材料體內吸收測量儀 |
型號 | PTS-2000 | PTB-2000 |
檢測靈敏度 | 10 ppb | 10 ppb |
檢測波長 | 355 nm, 532 nm, 1064 nm或定制波長 | 355 nm, 532 nm, 1064 nm或定制波長 |
| 泵浦激光 | 根據客戶需求配置 | 根據客戶需求配置 |
橫向空間分辨率 | ≤10 μm | ≤10 μm |
| 樣品尺寸 | 50 mmx50 mm x10 mm | 50 mmx50 mm x10 mm |
注：可以根據客戶需求提供同類特制儀器和相關測試的解決方案。
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