DIC導電粒子顯微鏡工業檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯微觀察
DIC導電粒子顯微鏡工業檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯微觀察。采用優良的無限遠光學系統與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察, DIC觀察等功能，導柱升降裝置，可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。產品透鏡及外形封裝全部為韓國進口。
序號 | 項目 | 技術參數 |
1. | 觀察方式 | 相機電腦成像 |
2. | 相機 | 230萬高速相機 |
3. | 物鏡 | 采用奧林巴斯DIC物鏡 |
4. | 偏光裝置 | 采用徠卡偏光裝置 |
5. | 微分干涉裝置 | 采用徠卡技術，使成像更清晰 |
6. | 光源 | 3.4瓦LED高亮照明 |
7. | 物鏡成像距離 | 10mm |
8. | 尺寸 | 370mm*170mm*100mm |
效果展示：
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