能觀察IC內(nèi)部的近紅外線（IR）觀察專用型號（透反射/反射）

● 近紅外外透射反射觀察用顯微鏡
● 5X到10X紅外鏡頭,像差校正本涵蓋從可見光到近紅外整個波段
● 晶圓，化合物半導體的內(nèi)部，封裝芯片內(nèi)部以及CSP bump觀察適宜

主要特點：
1.UIS無限遠校正光學系統(tǒng)，提供出色的圖像質(zhì)量
2.人機工程學的進一步改善，使操作更為舒適
3.多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗需要