概要SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質方面是靈活的分析工具

概要

SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質方面是靈活的分析工具。根據不同的配置和應用程序可以完成顆粒度的分析，zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數（A2）的測定。SZ-100的典型應用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。

顆粒分析儀采用動態光散射原理（DLS）。根據樣品的物理性質，動態測量范圍為0.3 nm – 8 µm。檢測范圍的下限受到以下因素的影響：樣品濃度、樣品對光的散射強度以及大的雜質顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響，因為DLS原理是顆粒的布朗運動而不是重力沉降。

SZ-100以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池，通過顆粒電泳遷移率的結果計算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩定性的一個指標。Zeta電位的數值較大表明顆粒帶電較多，斥力較大，較難發生團聚，溶液保持穩定。通常根據pH值或其他化學參數的改變檢測zeta電位以便于設計可長時間保存的產品。相反地，發現zeta電位為零時（就是說，樣品處于等電點），就要考慮選擇條件將顆粒進行絮凝和分離。

SZ-100還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。用戶準備幾個已知濃度的溶液，然后使用系統的靜態光散射模式繪制Debye曲線，從而計算出Mw和A2。

特征

    將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數的檢測集于一身

    寬檢測范圍，寬濃度范圍

    雙光路雙角度粒徑測量（90° 和173°）

    多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光

    用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池

    自動滴定儀：可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定

規格

    粒徑：動態光散射原理（DSL）

    測量范圍

    顆粒直徑：0.3nm-8.0μm

    測量精度

    粒徑：按照ISO 13321/22412

    可溯源的NIST聚苯乙烯乳膠顆粒：100nm測量精度= +/- 2%

    濃度

       下限：0.1 mg/mL

       上限：40 wt % （視樣品而定）

    測量時間：粒徑分析一般需大約2分鐘(可自行設定)

    樣品池：比色皿樣品池

    取樣量：12μl ～ 4ml* （* 取樣量取決于樣品池容量。）

      Zeta電位：激光多普勒法

    測量范圍：-200 – +200mV

    測量時間：一般需大約2分鐘

    樣品池：專用一次性樣品池　

    取樣量：~100μl，一次性樣品池

    分子量：靜態光散射德拜曲線法

    測量范圍：Mw: 1×103 - 2×107 g/mol

    樣品池：比色皿樣品池

    物理參數：電源：AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA

    激光：二極管泵浦倍頻激光器 532 nm，10 mW I級

    接口：USB 2.0，連接電腦與設備

    外形尺寸：385(D) ′ 528(W) ′ 273(H) mm (不計凸起部分)

    重量：25kg

    控溫范圍：1-90℃，電極池和塑料池上限為70℃

    工作環境：15-35℃，相對濕度≤85%，無結露

    冷凝控制：可連接吹掃氣