InSEMHT（高溫）通過在真空環境中分別獨立加熱壓頭和樣品以測量高溫下的硬度、模量和剛度

InSEM^®HT（高溫）通過在真空環境中分別獨立加熱壓頭和樣品以測量高溫下的硬度、模量和剛度。 InSEM HT與掃描電子顯微鏡

（SEM）和聚焦離子束（FIB）工作室，或獨立的真空工作室兼容。 配有的InView軟件可幫助高級研究人員開發新的實驗。科學出

版文獻表明，InSEM HT結果與傳統的大規模高溫測試數據匹配良好。測試溫度范圍寬以及擁有成本低的特點使InSEM HT成為材料

開發研究計劃中很有價值的設備。

產品描述

InSEM HT高溫測試系統可在真空環境中對壓頭和樣品分別獨立進行加熱，并與許多SEM/FIB工作室或獨立真空工作室兼容。 系統

溫度可高達800°C，因而可以模擬現場溫度條件，以獲得可靠一致的測試數據。鉬支架上的單晶碳化鎢壓頭經過優化，可用于

高溫測試應用，并可提供多種幾何形狀。