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太陽能硅片膜厚測厚儀

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進口太陽能硅片膜厚測厚儀

 

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薄膜光伏

薄膜光伏 (TFPV) 作為硅基晶圓的較廉價的替代品正在得到開發(fā)。 薄膜光伏共有三大類,按照其有效層組成命名: 硅薄膜、II-VI (主要是銻化鎘) 和 CIGS (銅銦硒化鎵)。 每種有效層薄膜都是用在一層透明導電氧化膜上面,而基板可用玻璃或金屬。


測量有效層

準確了解有效層的厚度和組成是非常重要的。 太薄會影響功效和耐用性,而太厚又會提高成本。 錯誤的組成會大大降低產(chǎn)品的功效和制造產(chǎn)量。


本型號為幾十家薄膜光伏制造商所使用,用于測量三類有效層的厚度和光學常數(shù)。 為了測量透明導電氧化膜上面的有效層薄膜, 已獲得了豐富的經(jīng)驗來檢測用戶自行生產(chǎn)的或?qū)I(yè)玻璃生產(chǎn)商提供的單層及多層導電玻璃。


其他制程薄膜

除了有效層和透明導電氧化物堆以外,還有其他薄膜用于光伏類產(chǎn)品的制造。 這些例子包括用于刻蝕電池和電極的聚酰亞胺和光刻膠,以及減反涂層。 在這些情況下, 有現(xiàn)有的臺式, 測繪, 或在線解決方案。


測量范例

快速可靠地測量多層薄膜是開發(fā)制造薄膜太陽能電池的關鍵。在這個案例中,我們需要測量薄膜光伏上緩沖層(硫化鎘)和吸收層(碲化鎘)的厚度。本機結合準直光束平臺,使我們能夠從反射光譜測量TEC玻璃上太陽能電池碲化鎘和硫化鎘層的厚度。

 

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