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泰勒CCI MP光學(xué)輪廓儀

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無論對分析速度的要求有多高,我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果

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無論對分析速度的要求有多高,我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合,無論是測量非常粗糙的表面,還是測量極其光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細分析。

CCI光學(xué)裝置與光學(xué)研究人員和科學(xué)家的專業(yè)知識保持與時俱進,能滿足光學(xué)領(lǐng)域的嚴苛測量要求。 CCI光學(xué)裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與的工程設(shè)計融于一體,是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI的薄膜厚度測量功能,進一步完善了為光學(xué)工業(yè)而設(shè)計的出色計量包裝 。

  • 2048 x 2048像素陣列,視場廣,高分辨率
  • 全量程0.1埃的分辨率
  • 輕松測量反射率為0.3% - 99%的各種表面
  • RMS重復(fù)精度<0.2埃,階躍高度重復(fù)精度<0.1%
  • 多語言版本的64位控制和分析軟件

 

 


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