| 參考價 | ￥ 78000 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
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冷熱沖擊試驗箱，適用于電子元器件測試主要適用于電子元器件（如芯片、電阻、電容、傳感器、PCB 板等）的溫度沖擊可靠性測試。可模擬電子設備在運輸、使用過程中遇到的高低溫突變環境，檢測元器件的焊接強度、材料韌性、電氣性能穩定性等，提前發現因溫度劇變導致的虛焊、開裂、參數漂移等潛在問題，為電子元器件的選型、工藝優化、品質管控提供關鍵數據支撐，廣泛應用于半導體、通訊、汽車電子、航空航天等電子相關行業。
冷熱沖擊試驗箱，適用于電子元器件測試
用途
冷熱沖擊試驗箱，適用于電子元器件測試
技術參數
溫度范圍：高溫槽 100℃～150℃，低溫槽 - 70℃～-40℃
溫度波動度：±0.5℃，溫度偏差：±1℃
沖擊溫度范圍：-65℃～130℃（測試槽）
溫度轉換時間：≤10 秒（空載，全程平均）
恢復時間：≤5 分鐘（空載，從沖擊溫度到穩定溫度）
樣品架承重：≤50kg（均勻分布）
電源：AC380V±10% 50Hz 三相五線制，功率 15～25kW
外形尺寸：約 2200×1800×2000mm（根據容積不同略有差異）
工作原理
快速溫度轉換：10 秒內完成高低溫轉換，模擬瞬間溫度劇變場景；
高精度控制：采用進口溫度傳感器與控溫算法，溫度控制精準；
安全保護完善：具備超溫保護、漏電保護、壓縮機過載保護、缺水保護等 10 重安全防護；
節能設計：高溫槽采用節能保溫材料，低溫槽采用高效制冷系統，能耗較同類產品降低 25%；
數據管理便捷：支持 USB 數據導出、RS485 通訊接口，方便與實驗室管理系統對接。
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